北京射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.3-2016,IEC61000-4-3:2010适用于电气、电子设备的电磁场辐射抗扰度要求，规定了试验等 和试验的程序。射频电磁场辐射抗扰度试验的目的是建立电气、电子设备受到射频电磁场辐射时的抗扰度评定依据。
、射频电磁场辐射抗扰度试验有五个测试等 ：1 ,1V/m,2 ，3V/m,3 ，10V/m,4 ，20V/m,5 是开放等 。
二、射频电磁场辐射抗扰度试验测试频率通常选取：80MHz~1000MHz,对于保护抵抗数字无线电话和其他射频发射装置的射频辐射的测试频率通常选取：800MHz~960MHz和1.4GHz~6GHz频率范围内进行试验。
三、射频电磁场辐射抗扰度试验所用的测试设备：
电波暗室、电磁干扰滤波器、射频信号发生器、功率放大器、发射天线等。
四、射频电磁场辐射抗扰度试验设施的描述：
由于试验所产生的场强高，应在屏蔽室中进行试验，以便符合有关禁止对无线通信干扰的规定。大多数采集数据的设备对抗干扰试验过程中所产生的电磁场很敏感，因此需要用屏蔽室在EUT与测试仪器之间提供 层屏障。应注意确保穿过屏蔽室的连线的传导和辐射有充分的衰减，以保证EUT的信号和功率响应的真实性。
试验设施为安装有吸波材料的屏蔽室，且屏蔽室应具有足够的空间以安放EUT,并对试验场强有充分的控制能力，电波暗室在低频时效果不佳，应特别注意确保低频时产生场强的均匀性。
所有的EUT的测试都应在尽可能接近实际安装配置条件下进行试验，除非另有规定，布线应按照制造商推荐的规程进行，设备应放置在其壳体内部，并安装上所有的盖板和接口面板。
五、试验程序：
1、确认实验室的有关文件；
2、确认受试设备的正确运行；
3、试验的实施；
3、检测结果的评价。
六、试验结果的评价：
A ：在制造厂或委托方或用户规定的技术范围限值内性能正常；
B ：功能暂时丧失或性能暂时降低，但在骚扰停止后EUT能自行恢复，无需操作者干预；
C ：功能暂时丧失或性能暂时降低，但需操作者干预才能恢复正常；
D ：因硬件或软件损坏，或数据丢失而造成不能自行恢复至正常状态的功能降低或丧失。
般情况下，测试结果要求A ，也有相对宽松 些的B ，具体得看用户双方是怎么规定的。
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